遮断円筒導波管法とは？

ミリ波における平板誘電体材料を測定するための遮断円筒導波管法は、JISR1660-1(2004)およびIEC 61338-1-4(2005) として制定されています。
この方法は、円筒空洞共振器がミリ波帯で製作困難になるために開発された測定法であり、誘電体基板の面方向の複素比誘電率が測定可能です。
2004年にJIS R1660-1として制定され、さらに2005年にIEC 61338-1-4として正式に国際標準規格化されるに至りました。下図にその構造を示します。

e_r はTE₀₁₁モードのf₀ の測定値より、tand はQ_u の測定値より縁端効果まで考慮した値が求められます。