サムテックでは、各種ニーズにマッチした産業用および新材料開発用の誘電体サンプル(試料)の測定依頼を承ります。
IEC国際標準/JIS国内標準規格に準拠した最新の厳密解析計算アルゴリズムのコア技術をベースに正確な誤差評価を考慮して、ご希望の誘電体材料の平面方向・垂直方向の複素比誘電率、導体板や銅箔等の表面抵抗および実効導電率、誘電体と導体の界面抵抗および実効導電率の高精度な測定を提供しております。
さらに実務的な見地から測定結果に関してのコンサルタントを行っております。

誘電体材料の測定サービス

弊社の測定サービスにおいては、弊社ソフトウェア製品のコア技術である低周波や高損失誘電体材料の電気計測とは異なる独特な高周波帯・低損失用途の最新の厳密解析計算アルゴリズムに基づいて誘電体材料の特性を解析計算しデータ取得を行っております。
これにより、誘電体材料の誘電率【εr, Dk】と誘電損失【tanδ, Df】・金属導体や高温超伝導体の表面抵抗【σrf】を「IEC国際標準規格に準拠した厳密解析」により高精度に行える点と、各測定値の精度を誤差評価(注) を考慮して個々の試料名毎に明確に評価できる点を特長としております。

(注) 高精度測定の成否を左右する誤差評価とは、数回の繰り返し測定と厳密解析計算処理の実行により、偶然誤差 [Random errors] (共振器への試料セッティング状態の測定回ごとのばらつき等)系統誤差 [Systematic errors] (作業者スキル、品質個体差による共振器ごとのばらつき、測定器の校正状態・設定ミス等)によって生じる誤差範囲 [Δ,delta] をデータ評価して誤差要因を明確化し、本来誤差を含んでいる各測定値に対して真値にできるだけ近いデータを得ることを意味します。