ＮＴＴデバイスクロステクノロジ株式会社（NXTEC）もしくは 弊社にて、６Ｇ ／ ５Ｇ時代のスマホ、無線基地局、遠隔診療、データセンターICTインフラと車載レーダ技術を支える光電融合一体デバイス用途の高周波・高密度高多層・超高速伝送基板用誘電体サンプル（試料）の測定依頼を承ります。
ご希望の誘電体材料の平面方向・垂直方向の複素比誘電率、導体板や銅箔等の表面抵抗および実効導電率、誘電体と導体の界面抵抗および実効導電率を、IEC国際標準／JIS国内標準規格に準拠した最新の厳密解析計算アルゴリズムのコア技術をベースに、正確な誤差評価を考慮して高精度に測定することが可能なソリューションを提供しております。
さらに実務的な見地から測定結果に関してのコンサルタントを行っております。
【ＮＴＴ ﾏｲｸﾛ波-ﾐﾘ波受託測定サービスのご紹介】
ＮＴＴデバイスクロステクノロジ 高周波・高速伝送特性評価 製品 & サービスへのお問い合わせ
弊社ソフトウェア製品のコア技術である低周波や高損失誘電体材料の電気計測とは異なる独特な高周波帯・低損失用途の最新の厳密解析計算アルゴリズムに基づいて誘電体材料の特性を解析計算しデータ取得を行っております。
これにより、誘電体材料の誘電率【εr, Dk】と誘電損失【tanδ, Df】・金属導体や高温超伝導体の表面抵抗【σrf】を「IEC国際標準規格に準拠した厳密解析」により高精度かつ高確度に行える(注1) 点と、各測定値の精度を誤差評価(注2) を考慮して個々の試料名毎に明確に評価できる点を特長としております。
(注1) IEC規格に適合する弊社ソフトウェア製品を使用した測定と厳密な数値解析によって、試料（サンプル）の加工形状または試料の挿入孔と励振孔または円形銅箔が原因で測定治具（共振器）の導体部と試料との間に生じてしまう空隙［Air gap］の深刻な影響による比誘電率【εr, Dk 】の誤差を正確に補正した上で数回の繰り返し測定値のばらつき誤差を精度評価し、より高確度で信頼性の高い誘電特性 (εr, tanδ) と 導電材料の導電性 (σr) を導出しております。
(注2) 高精度測定の成否を左右する誤差評価とは、数回の繰り返し測定と厳密解析計算処理の実行により、偶然誤差 [Random errors] （共振器への試料セッティング状態や試料測定部位による複素比誘電率の測定回ごとの差異ばらつき等）と系統誤差 [Systematic errors] （作業者スキル、温度差や品質個体差によって生じる共振器ごとの寸法と導電性 (σr) の重大な変化を原因とする差異ばらつき、測定器の校正状態・設定ミス等）によって物理的および化学的に生じる誤差範囲 [Δ,delta] をデータ評価して誤差要因を明確化し、本来誤差を含んでいる各測定値に対して真値にできるだけ近いデータを得ることを意味します。