SUM-PLATE Ver 8.0を用いた測定方法に関する技術情報

測定対象

誘電体平板の面方向の複素比誘電率

測定範囲・測定精度

周波数f   2GHz 〜 40GHz
比誘電率εrt   1.1 〜 50,   ±(0.2 〜 0.5)%
誘電正接 tanδt   10-3 〜 10-6,   ±(2 〜 10)%

この測定に用いる空洞共振器のラインナップ・円板試料の必要寸法

測定用円筒空洞共振器は、異なる共振周波数ごとに対応しています。

測定用円筒空洞 試料の直径(mm) 試料の厚さ(mm)
3GHz空洞 170 - 175 < 14
6GHz空洞 85 - 105 < 7
9GHz空洞 56 - 83 < 4.7
12GHz空洞 43 - 64 < 3.5
18GHz空洞 30 - 55 < 2.5
24GHz空洞 22 - 52 < 1.8
33GHz空洞 16 - 49 < 1.3

※ 円板試料のみならず、方形試料でも測定可能です。

円筒空洞共振器の構造

空洞共振器構造図

円筒空洞共振器の外観

空洞共振器 外観1    空洞共振器 外観2

12GHz用の設置例の外観

異なる共振周波数ごとの空洞共振器

常温特性の測定結果例

SUM-PLATE 常温測定結果例

厳密解析に基づく異なる共振周波数ごとの
ガラスクロスPTFE基板の測定結果

本測定に対応するTE0m1空洞共振器の外観

本測定用対応の周波数依存性測定用
マルチモードTE0m1空洞共振器の外観



温度依存性測定治具の外観と測定結果例

SUM-PLATE 温度依存性測定治具外観

温度依存性測定治具の外観

SUM-PLATE 温度依存性測定結果例 SUM-PLATE 温度依存性測定結果例2

 厳密解析に基づく1K (ケルビン) 毎の試料名毎の測定結果 

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