SUM-PLATE Ver 8.0を用いた測定方法に関する技術情報

測定対象

誘電体平板の面方向の複素比誘電率

測定範囲・測定精度

周波数f	2GHz 〜 40GHz
比誘電率εrt	1.1 〜 50,   ±(0.2 〜 0.5)%
誘電正接 tanδt	10-3 〜 10-6,   ±(2 〜 10)%

この測定に用いる空洞共振器のラインナップ・円板試料の必要寸法

測定用円筒空洞共振器は、異なる共振周波数ごとに対応しています。

測定用円筒空洞	試料の直径(mm)	試料の厚さ(mm)
3GHz空洞	170 - 175	< 14
6GHz空洞	85 - 105	< 7
9GHz空洞	56 - 83	< 4.7
12GHz空洞	43 - 64	< 3.5
18GHz空洞	30 - 55	< 2.5
24GHz空洞	22 - 52	< 1.8
33GHz空洞	16 - 49	< 1.3

※ 円板試料のみならず、方形試料でも測定可能です。

円筒空洞共振器の構造

円筒空洞共振器の外観

    

12GHz用の設置例の外観

異なる共振周波数ごとの空洞共振器

常温特性の測定結果例

厳密解析に基づく異なる共振周波数ごとの
ガラスクロスPTFE基板の測定結果

本測定用対応の周波数依存性測定用
マルチモードTE_0m1空洞共振器の外観

温度依存性測定治具の外観と測定結果例

温度依存性測定治具の外観

 

 厳密解析に基づく１K (ケルビン) 毎の試料名毎の測定結果 

本製品にご興味、ご関心をお持ちでしたら、お気軽に info@sumtec.biz まで、メールにてお問い合わせ下さい。